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Marc Drillon

Nanomatériaux et nanostructures : caractérisation de la matière à l’échelle atomique

Jeudi 14 mai 2009, à 16h00

Un des grands défis technologiques actuels concerne la maîtrise des propriétés de la matière à l’échelle de l’infiniment petit afin de pouvoir réaliser des composants ou dispositifs mettant en jeu quelques centaines voire quelques atomes.

La première partie de l’exposé sera consacrée à une présentation des activités de l’IPCMS dans le domaine des nanomatériaux et nanostructures en mettant l’accent sur les applications potentielles en électronique de spin et nanophotonique.

Les développements les plus récents en MET haute résolution pour la caractérisation de la matière à l’échelle atomique seront abordés dans un second temps. L’installation à l’IPCMS d’un microscope JEOL 2100F de toute dernière génération, équipé de la fonction STEM, d’un correcteur d’aberration sphérique de la sonde électronique, de la spectroscopie de perte d’énergie et de l’imagerie 3D, permet d’accéder à des informations à caractère 3D sur des nanomatériaux à structure et morphologie complexes.

Divers exemples de caractérisation de nanoobjets seront présentés : matériaux mésoporeux et nanotubes de carbone contenant des nanoparticules métalliques, morphologie des cavités dans des silices mésoporeuses utilisées en catalyse, répartition spatiale d’éléments chimiques dans des nanomatériaux par spectroscopie EELS 3D, croissance in situ de nanotubes de carbone,...